Développement d'une méthode de caractérisation des NIAS (Non-Intentionnally Added Substances) par spectrométrie de masse à très haute résolution FT ICR (Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance) couplée à une source électrospray

Abstract

La présence de NIAS (composés ajoutés non intentionnellement) dans les matériaux et objets destinés à entrer en contact avec la denrée alimentaire préoccupe la commission européenne. En effet, ces composés sont capables de migrer de l’emballage vers l’aliment et de contaminer notre alimentation. Dans le but d’éviter de future crise sanitaire, l’identification de ces composés est un enjeu primordial. Ce mémoire a pour but de développer une méthode analytique capable de détecter et d’identifier les NIAS (non-intentionally added substances) ionisés par source électrospray et analysés en haute résolution par la FT-ICR. Les solutions de NIAS ont été obtenues par migration globale. Une première approche pour identifier les potentiels NIAS a été d’utiliser l’exactitude fournie par un spectromètre de masse FT-ICR pour obtenir une liste réduite de formules brutes pour chaque pic du spectre de masse. Dans le but de réduire le nombre de formule brute potentielle et de mieux visualiser les pics du spectre de masse, nous avons utilisé le défaut de masse de Kendrick. L’élaboration de graphique de Kendrick basé sur le défaut de masse de Kendrick, nous a permis de simplifier l’analyse d’un spectre de masse complexe en regroupant les composés dont la composition élémentaire ne varie que d’une unité répétitive (ex : -CH2-) entre eux. L’utilité de l’exactitude sur la mesure et des graphiques de Kendrick dans l’identification des NIAS est discutée dans ce mémoire.