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Faculté des Sciences appliquées
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Mémoire
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Electromigration-driven weak resistance switching in high-temperature superconducting devices

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Stoffels, Daniel ULiège
Promoteur(s) : Silhanek, Alejandro ULiège
Date de soutenance : 24-jui-2024/25-jui-2024 • URL permanente : http://hdl.handle.net/2268.2/20362
Détails
Titre : Electromigration-driven weak resistance switching in high-temperature superconducting devices
Titre traduit : [fr] Faible commutation de résistance induite par électromigration dans les dispositifs supraconducteurs à haute température
Auteur : Stoffels, Daniel ULiège
Date de soutenance  : 24-jui-2024/25-jui-2024
Promoteur(s) : Silhanek, Alejandro ULiège
Membre(s) du jury : Vanderheyden, Benoît ULiège
Gilet, Tristan ULiège
Langue : Anglais
Nombre de pages : 83
Mots-clés : [en] electromigration
[en] resistive switching
[en] YBCO
Discipline(s) : Ingénierie, informatique & technologie > Science des matériaux & ingénierie
Centre(s) de recherche : Experimental Physics of Nanostructured Materials, Q-MAT, Université de Liège, Belgium
Public cible : Chercheurs
Professionnels du domaine
Etudiants
Institution(s) : Université de Liège, Liège, Belgique
Diplôme : Master en ingénieur civil physicien, à finalité approfondie
Faculté : Mémoires de la Faculté des Sciences appliquées

Résumé

[en] Complex oxides are at the heart of modern functional material developments. In particular, the perovskite ABO3 structure is seen in compounds used in oxide solar cells, resistive memories, fuel cell catalysts, superconducting tapes, quantum bits and programmable magnets, making it one of the most studied material families. One important advantage of these systems is that their properties may be controlled in situ to change between various electronic states, usually by means of thermal or electric conditioning. In this work, we investigate the two-terminal resistive switching properties of the perovskite-like oxide YBa2Cu3O7-δ when the system is driven by electric current. We perform all-electrical switching to characterize and control low-amplitude resistance changes, and we implement finite element modeling to explain how these effects can be properly accounted for by oxygen-vacancy counterflow induced by electric bias. The presented research sheds new light on the bulk displacement of oxygen atoms in perovskite materials with potential for sensing and memory technologies.


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Document(s)

File
Access master_thesis_Daniel_STOFFELS.pdf
Description:
Taille: 24.27 MB
Format: Adobe PDF

Auteur

  • Stoffels, Daniel ULiège Université de Liège > Master ing. civ. phys., fin. approf.

Promoteur(s)

Membre(s) du jury

  • Vanderheyden, Benoît ULiège Université de Liège - ULiège > Dép. d'électric., électron. et informat. (Inst.Montefiore) > Electronique et microsystèmes
    ORBi Voir ses publications sur ORBi
  • Gilet, Tristan ULiège Université de Liège - ULiège > Département d'aérospatiale et mécanique > Microfluidique
    ORBi Voir ses publications sur ORBi
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